Onto Innovation Inc.XTRA:NNM 株式レポート

会社概要

米国、台湾、韓国、日本、中国、東南アジア、アジア、欧州において、マクロ欠陥検査と計測を行うプロセス制御ツールの設計、開発、製造、サポートを行っている。リソグラフィーシステムとプロセス制御分析ソフトウェア、自動化・統合化計測システム、シリコンウエハー全面検査、マクロ欠陥検査、自動欠陥分類・パターン分析、歩留まり分析、不透明膜計測、4Dビジネス、先端パッケージングリソグラフィー、プロセス制御ソフトウェア、歩留まり管理ソフトウェア製品を提供している。また、光学計測、マクロ欠陥検査、パッケージング・リソグラフィー、透明・不透明薄膜測定用のスタンドアロン・システムを通じて、プロセスおよび歩留まり管理ソリューション、デバイス・パッケージングおよびテスト設備も提供している。さらに、スタンドアロン・ツール、ツール群、工場全体のスイートを含むプロセス制御ソフトウェア・ポートフォリオも提供している。さらに、システム、ソフトウェア、スペアパーツ、その他のサービス、ソフトウェアライセンスサービス、FAaST、CnCV、MBIRなどの高度な製品ラインも提供している。同社の製品は、半導体および先端パッケージングデバイスメーカー、シリコンウエハー、半導体集積回路ファブリケーター、発光ダイオード、垂直共振器面発光レーザー、マイクロエレクトロメカニカルシステム、CMOSイメージセンサー、シリコンおよび化合物半導体パワーデバイス、アナログデバイス、RFフィルター、データストレージ、および様々な産業および科学アプリケーションで使用されている。オント・イノベーション・インクは1940年に設立され、マサチューセッツ州ウィルミントンに本社を置いている。